การทดสอบการบดอัดบางส่วนนำไปสู่การปิดการทำงานของเซลล์อย่างไร,
การทดสอบการบดอัดบางส่วนนำไปสู่การปิดการทำงานของเซลล์อย่างไร,

▍การรับรองจาก ANATEL คืออะไร

ANATEL ย่อมาจาก Agencia Nacional de Telecomunicacoes ซึ่งเป็นหน่วยงานรัฐบาลบราซิลที่ได้รับการรับรองผลิตภัณฑ์การสื่อสารสำหรับการรับรองทั้งภาคบังคับและภาคสมัครใจ ขั้นตอนการอนุมัติและการปฏิบัติตามข้อกำหนดจะเหมือนกันทั้งสำหรับผลิตภัณฑ์ในประเทศและต่างประเทศของบราซิล หากผลิตภัณฑ์ใช้ได้กับการรับรองภาคบังคับ ผลการทดสอบและรายงานจะต้องเป็นไปตามกฎและข้อบังคับที่ระบุตามที่ ANATEL ร้องขอ ใบรับรองผลิตภัณฑ์จะต้องได้รับจาก ANATEL ก่อนเผยแพร่ผลิตภัณฑ์ในการตลาดและนำไปใช้จริง

▍ใครเป็นผู้รับผิดชอบต่อการรับรองจาก ANATEL

องค์กรมาตรฐานของรัฐบาลบราซิล หน่วยงานออกใบรับรองที่ได้รับการยอมรับอื่นๆ และห้องปฏิบัติการทดสอบเป็นหน่วยงานออกใบรับรอง ANATEL สำหรับการวิเคราะห์ระบบการผลิตของหน่วยการผลิต เช่น กระบวนการออกแบบผลิตภัณฑ์ การจัดซื้อ กระบวนการผลิต บริการหลังการขาย และอื่นๆ เพื่อตรวจสอบผลิตภัณฑ์ทางกายภาพที่จะปฏิบัติตาม ด้วยมาตรฐานของบราซิล ผู้ผลิตจะต้องจัดเตรียมเอกสารและตัวอย่างสำหรับการทดสอบและประเมินผล

▍ทำไมต้อง MCM?

● MCM มีประสบการณ์และทรัพยากรมากมายเป็นเวลา 10 ปีในอุตสาหกรรมการทดสอบและการรับรอง: ระบบการบริการคุณภาพสูง ทีมงานด้านเทคนิคที่มีคุณสมบัติเชิงลึก โซลูชันการรับรองและการทดสอบที่รวดเร็วและง่ายดาย

● MCM ร่วมมือกับองค์กรคุณภาพสูงในท้องถิ่นที่ได้รับการยอมรับอย่างเป็นทางการหลายแห่ง เพื่อมอบโซลูชันที่หลากหลาย บริการที่แม่นยำ และสะดวกสบายให้กับลูกค้า

Crush เป็นการทดสอบทั่วไปในการตรวจสอบความปลอดภัยของเซลล์ โดยจำลองการชนกันของเซลล์หรือผลิตภัณฑ์ขั้นสุดท้ายในการใช้งานประจำวัน โดยทั่วไปการทดสอบการกระแทกมีสองประเภท: การกระแทกแบบเรียบและการบดบางส่วน เมื่อเปรียบเทียบกับการบดแบบแบน การเยื้องบางส่วนที่เกิดจากหัวกดทรงกลมหรือทรงกระบอกมีแนวโน้มที่จะทำให้เซลล์ไม่ได้ผลมากกว่า ยิ่งหัวกดมีความคมชัดเท่าใด ความเครียดก็จะยิ่งเข้มข้นไปที่โครงสร้างแกนกลางของแบตเตอรี่ลิเธียมมากขึ้นเท่านั้น การแตกของแกนในจะรุนแรงมากขึ้น ซึ่งจะทำให้เกิดการเสียรูปและการกระจัดของแกนกลาง และยังนำไปสู่ผลกระทบร้ายแรง เช่น การรั่วไหลของอิเล็กโทรไลต์หรือ แม้กระทั่งไฟ แล้วการบดขยี้ทำให้เกิดการปิดการทำงานของเซลล์ได้อย่างไร? ที่นี่จะแนะนำให้คุณรู้จักกับวิวัฒนาการของโครงสร้างภายในของแกนกลางในการทดสอบการอัดขึ้นรูปเฉพาะที่ Øแรงบีบจะถูกส่งไปยังกล่องหุ้มเซลล์ก่อน และกล่องหุ้มจะเสียรูป จากนั้นแรงจะถูกส่งไปยังด้านในของแบตเตอรี่ และส่วนประกอบของเซลล์ก็เริ่มเปลี่ยนรูปเช่นกัน
Øด้วยการบีบอัดหัวบดเพิ่มเติม การเสียรูปจะขยายและเกิดการแปลเป็นภาษาท้องถิ่น ในขณะเดียวกัน ระยะห่างระหว่างชั้นอิเล็กโทรดแต่ละชั้นจะค่อยๆ ลดลง ภายใต้การบีบอัดอย่างต่อเนื่อง ตัวสะสมกระแสไฟฟ้าจะโค้งงอและผิดรูป และเกิดแถบเฉือนขึ้น เมื่อการเสียรูปของวัสดุอิเล็กโทรดถึงขีดจำกัด วัสดุอิเล็กโทรดจะทำให้เกิดรอยแตกร้าว
ด้วยการเสียรูปที่เพิ่มขึ้น รอยแตกจะค่อยๆ ขยายไปยังตัวสะสมปัจจุบัน ซึ่งจะฉีกขาดและทำให้เกิดการแตกหักแบบเหนียว นอกจากนี้รอยแตกในแนวรัศมีจะยาวขึ้นเนื่องจากความเครียดที่เพิ่มขึ้นและการกระจัดในแนวรัศมี